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產(chǎn)品名稱: 大連溫度沖擊測試箱
產(chǎn)品型號: TS系列
產(chǎn)品展商: Lab Companion
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
TS系列大連溫度沖擊測試箱設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性.
大連溫度沖擊測試箱
的詳細(xì)介紹
*設(shè)備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到最??；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；
*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能
大連溫度沖擊測試箱 溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用國際流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用國際知名品牌產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；
大連溫度沖擊測試箱 設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
TS系列 大連溫度沖擊測試箱 技術(shù)參數(shù)
|
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TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W
|
TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W
|
TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W
|
TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
|
|
標(biāo)稱內(nèi)容積（升）
|
80
|
150
|
200
|
300
|
|
試驗方式
|
氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式
|
|
性能
|
高溫室
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預(yù)熱溫度范圍
|
＋60～＋200℃
|
|
升溫速率※1
|
＋60→＋200℃≤20分鐘
|
|
低溫室
|
預(yù)冷溫度范圍
|
－78－0℃
|
|
降溫速率※1
|
＋20→－75℃≤80分鐘
|
|
試驗室
|
溫度偏差
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±2℃
|
|
溫度范圍
|
TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
|
|
溫度恢復(fù)時間※2
|
5分鐘以內(nèi) m.ahjnpgw.com
|
|
試樣擱架承載能力
|
30kg
|
|
試樣重量
|
7.5kg
|
7.5kg
|
10kg
|
10kg
|
|
內(nèi)部尺寸（mm）
|
W
|
500
|
600
|
750
|
850
|
|
H
|
400
|
500
|
500
|
600
|
|
D
|
400
|
500
|
600
|
800
|
|
外形尺寸（mm）※4
|
W
|
1460
|
1560
|
1710
|
1880
|
|
H
|
1840
|
1940
|
1940
|
2040
|
|
D
|
1500
|
1600
|
1700
|
1900
|
|
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能。
|
|
※2恢復(fù)條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）
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|
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|
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TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W
|
TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W
|
TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W
|
TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
|
|
標(biāo)稱內(nèi)容積（升）
|
80
|
150
|
200
|
300
|
|
試驗方式
|
氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式
|
|
性能
|
高溫室
|
預(yù)熱溫度范圍
|
＋60～＋200℃
|
|
升溫速率※1
|
＋60→＋200℃≤20分鐘
|
|
低溫室
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預(yù)冷溫度范圍
|
－78－0℃
|
|
降溫速率※1
|
＋20→－75℃≤80分鐘
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|
試驗室
|
溫度偏差
|
±2℃
|
|
溫度范圍
|
TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
|
|
溫度恢復(fù)時間※2
|
5分鐘以內(nèi)
|
|
試樣擱架承載能力
|
30kg
|
|
試樣重量
|
7.5kg
|
7.5kg
|
10kg
|
10kg
|
|
內(nèi)部尺寸（mm）
|
W
|
500
|
600
|
750
|
850
|
|
H
|
400
|
500
|
500
|
600
|
|
D
|
400
|
500
|
600
|
800
|
|
外形尺寸（mm）※4
|
W
|
1460
|
1560
|
1710
|
1880
|
|
H
|
1840
|
1940
|
1940
|
2040
|
|
D
|
1500
|
1600
|
1700
|
1900
|
|
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能。
|
|
※2恢復(fù)條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）
|
冷熱沖擊試驗箱規(guī)格表(Programmable Thermal Shock Tster)
---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加LN2功能
|
試驗規(guī)范
|
駐留溫度(℃)
(exposure temp.)
|
駐留溫度時間(Min)
(exposure time)
|
覆歸時間
(recovery time)
|
周期
或次數(shù)
|
試驗起
始點
|
備注
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適用機臺型號
TS-(80/150/225/408)
|
|
高溫
|
室溫
|
低溫
|
高溫/低溫
|
室溫
|
S
|
U
|
L
|
MIL-STD-883E
(Method No.1010.7)
|
+85
|
+10
|
----
|
-55
|
0
|
≧10min
≦15min
|
----
|
含駐留時間&
轉(zhuǎn)換時間≦15min
|
最少
10次
|
低溫或
高溫
|
Temperature Cycling
(轉(zhuǎn)換時間<1min)
實驗過程若中斷
超過總實驗之1/10
次則實驗須重做
|
◎
|
◎
|
----
|
|
0
|
|
+125
|
+15
|
◎
|
◎
|
----
|
|
0
|
-10
|
|
+150
|
+15
|
◎
|
◎
|
----
|
|
0
|
|
+150
|
+15
|
-65
|
0
|
◎
|
.
|
----
|
|
0
|
-10
|
MIL-STD-202F
(Method No.107G)
|
+83
|
+3
|
-25
|
+10
|
-55
|
0
|
28g以下
15～30 Min
28～136g
30Min
136g～1.36Kg
60Min
1.36～13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min
|
Max.
5 Min
|
5 Min 以內(nèi)
|
5 cycle
25
50
100
|
低溫
|
Transfer time
不超過5 min
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
0
|
-3
|
|
+125
|
+3
|
-65
|
0
|
◎
|
◎
|
----
|
|
0
|
-5
|
-5
|
|
+125
|
+3
|
-65
|
0
|
◎
|
◎
|
----
|
|
0
|
-5
|
JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22
|
+70
+85
+100
+125
|
±2
±2
±2
±2
|
室溫
|
-5
-10
-25
-40
-55
-65
|
±3
±3
±3
±3
±3
±3
|
3hr
2hr
1hr
30min
或無定義則
以3hr定義
|
手動轉(zhuǎn)
移時間
2～3Min
|
為駐留時間
之1/10
|
5 cycle
除非有
其它規(guī)格
|
低溫
|
Auto
Transfer time
不超過30 sec
小試件
Transfer time
不超過10 sec
|
★
|
★
|
★
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
|
|
◎
|
◎
|
----
|
|
IPC 2.6.7
|
+70
|
±2
|
----
|
0
|
+0
|
15 Min
|
----
|
2 Min 以內(nèi)
|
100 cycle
|
高溫
(試驗結(jié)束
點在高溫)
|
Transfer time
不超過2 min
|
★
|
★
|
★
|
|
-0
|
-5
|
|
+85
|
+5
|
-40
|
+0
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
-0
|
-5
|
|
+105
|
+5
|
-55
|
+0
|
◎
|
◎
|
．
|
|
-0
|
-5
|
|
+105
|
+5
|
-65
|
+0
|
．
|
．
|
----
|
|
-0
|
-5
|
|
+105
|
+5
|
|
|
．
|
．
|
----
|
|
-0
|
|
IPC 2.6.6
|
+85
|
+3
|
-25
|
+10
|
-55
|
+0
|
30 Min
|
10-15
Min
|
|
5 cycle
|
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
-0
|
-5
|
|
+125
|
+3
|
-5
|
-65
|
+0
|
◎
|
◎
|
----
|
|
-0
|
-5
|
Bellcore
GR-1221-CORE
|
+70
|
±2
|
----
|
|
≧10min
≦15min
|
----
|
含駐留時間
&轉(zhuǎn)換時間≦15min
|
500 cycle
OR
1000cycle
|
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
|
|
+80
|
±2
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
|
JESD22
A104-A
|
+125
|
+10
|
|
-40
|
+0
|
≦15min
|
|
含駐留時間
&轉(zhuǎn)換時間≦15min
|
抽10次
可接受;
1000次
合格
|
|
Temperature
Cycling
(轉(zhuǎn)換時間<1min)
實驗過程若中斷
超過總實驗之1/10
次則實驗須重做
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
-0
|
-10
|
|
+85
|
+10
|
-55
|
+0
|
◎
|
◎
|
．
|
|
-0
|
|
+125
|
+10
|
|
-0
|
-10
|
|
+150
|
+10
|
|
-0
|
|
+150
|
+10
|
-65
|
+0
|
◎
|
宏展擁有一個專業(yè)從事環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)的科研機構(gòu)，具備成熟的環(huán)試研制手段與試驗室，聚集了行業(yè)內(nèi)一批優(yōu)秀的各類人才和知名專家，強大的研發(fā)團(tuán)隊引領(lǐng)著國內(nèi)環(huán)試技術(shù)發(fā)展方向．現(xiàn)目前，公司具有自主知識產(chǎn)權(quán)的高低溫試驗箱、高低溫濕熱試驗箱、快速溫度變化試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、三綜合試驗箱、高低溫低氣壓試驗箱、太陽輻射試驗箱、工業(yè)烤箱以及步入式高低溫濕熱試驗箱和高風(fēng)速淋雨試驗箱等氣候環(huán)境試驗設(shè)備及訂制產(chǎn)品處于國內(nèi)領(lǐng)先、國際高水準(zhǔn)。
